課程名稱 |
掃描探針顯微術:基礎原理、應用與實作 Scanning probe microscopy: Fundamental, Application and Practice |
開課學期 |
111-2 |
授課對象 |
理學院 物理學研究所 |
授課教師 |
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課號 |
Phys7072 |
課程識別碼 |
222 M6230 |
班次 |
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學分 |
2.0 |
全/半年 |
半年 |
必/選修 |
選修 |
上課時間 |
星期二9,10(16:30~18:20) |
上課地點 |
新物406 |
備註 |
掃描探針顯微與能譜術:基礎原理與實驗(以二維材料為例) 總人數上限:12人 |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
本課程將介紹掃描探針顯微鏡的關鍵概念,這是納米科學與技術中一種通用且重要的研究技術。 該課程還將提供實驗室實踐該技術的機會。 |
課程目標 |
(1) 學習SPM的基本概念和實踐。 (2)實際SPM實驗室做SPM實驗。 (3) 就選題進行陳述和討論。 |
課程要求 |
普通物理學和量子物理學的基礎知識。 |
預期每週課後學習時數 |
2-4小時 |
Office Hours |
每週二 16:20~17:00 備註: For other times, please make appointments |
指定閱讀 |
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參考書目 |
(更正: 本課程英文授課,使用英文資料) |
評量方式 (僅供參考) |
No. |
項目 |
百分比 |
說明 |
1. |
課堂展示 |
30% |
學生報告選定的 SPM 主題 |
2. |
課堂參與 |
15% |
學生在課堂和演講中參與討論。 |
3. |
調查表 |
15% |
學生需要填寫每兩週一次的調查表。 |
4. |
實驗室實驗和最終報告 |
40% |
要求學生分組提出並進行實驗,並完成最終報告 |
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針對學生困難提供學生調整方式 |
上課形式 |
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作業繳交方式 |
團體報告取代個人報告, 學生與授課老師協議改以其他形式呈現 |
考試形式 |
書面(口頭)報告取代考試 |
其他 |
由師生雙方議定 |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
第1週 |
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SPM技術介紹,基本理論/概念 |
第2週 |
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STM原理,能態密度 |
第3週 |
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原子力顯微鏡原理 |
第4週 |
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STM/AFM 能譜模式 |
第10週 |
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實驗室實驗之提議與討論 |
第5-6週 |
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學生就選定的主題發表報告 |
第7-9週 |
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訪問國內SPM研究組 |
第11-18週 |
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進行實驗室實驗,與討論 |
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